太陽能銀漿的穩(wěn)定性的快速評價方法

       在電子漿料穩(wěn)定性的評價上，常規(guī)分析是通過靜置或加速老化的方法，這種方法往往需要長達數(shù)月的時間，這在互聯(lián)網(wǎng)+時代怎么等得及。雖然有些人采用離心方法，但是您能評估它的貨架壽命嗎？   

        而有個儀器就可以很好地解決這些問題，這就是德國羅姆穩(wěn)定性分析儀器（LUMiSizer）穩(wěn)定性分析儀--縮短研發(fā)周期，幫您更好的解讀配方。對于任何分層現(xiàn)象，如沉淀、懸浮、固結，可對它們在離心場中速度分布以及粒徑分布進行快速表征。通過指紋圖譜進行數(shù)據(jù)化的分析。對比原始的穩(wěn)定分析試驗，基本都是在恒溫恒濕箱中進行幾個月的加速試驗，或者干脆就靜置放幾個月乃至一年，這樣無法進行判斷控制，且肉眼也難以判斷微小的變化。

         使用LUMiSizer測試穩(wěn)定性比用肉眼在自然重力下觀察試管的分離過程快2300倍。只需數(shù)分鐘或數(shù)小時，而不是幾個月或幾年，就能完成分散體在原始濃度下的快速穩(wěn)定性排序和貨架期預測，獲得的結果與正常重力下的結果一致，可以很輕松的檢測出不同配方電子漿料的穩(wěn)定性。
         LUMiSizer采用STEP技術可探測與時間，空間相關的光投射強度,記錄預選時間內通過整個樣品（從底部到頂部）的光透射走向，以及通過可探測的入射光的減弱量化局部分散顆粒濃度的變化。通過透光率-位置圖譜（指紋圖）可定性分析顆粒的分離行為。

主要功能：

①通過平行對比評估諸如不同原料配比對穩(wěn)定性的影響；

②加速考察配方穩(wěn)定性以及計算產(chǎn)品貨架期；

讓我們來看看LUMiSizer是如何實現(xiàn)這兩個功能的。

篩選配方
        LUMiSizer能將多12個樣品同時置于各種溫度和轉速之下，設定一個輸出實時圖像的時間間隔，將所有的圖像匯集在一個坐標圖中，可以快速直觀的分析穩(wěn)定性數(shù)據(jù)。
         舉例測驗3個銀漿樣品，設定條件為25℃，4000轉速，在實驗22個小時后，終得到1000條譜線。

上圖為銀漿樣品的透光率指紋圖譜。其中，縱坐標代表透光率，橫坐標代表樣品管位置。

上圖為銀漿樣品每間隔20條譜線顯示一條后的局部放大圖。

        我們發(fā)現(xiàn)隨著實驗的進行，該樣品頂部的透光率變高，說明有顆粒發(fā)生了沉降。且在實驗初期，譜線的斜率平緩，呈現(xiàn)多分散沉降；隨后譜線的斜率變陡峭，呈現(xiàn)區(qū)域沉降。對其他2個樣品也進行了穩(wěn)定性測試，發(fā)現(xiàn)趨勢和上圖大體一致，我們接下來分析3個樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)的對比。
        對實驗全程時間內3組樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)比較如下，從圖可以分辨出，紅色樣品的不穩(wěn)定性指數(shù)低，說明其越穩(wěn)定。

      通過對圖像的數(shù)據(jù)分析，配方師可以判斷銀漿樣品是否達到預期目標，對比多種配方的穩(wěn)定性，分析配方應該向什么方向做出調整。在常規(guī)肉眼觀測下穩(wěn)定性相同的兩個體系，用儀器來測試結果可能相差甚遠，它可以幫助配方師發(fā)現(xiàn)細微隱患，從而做出相應的改進，大大增強配方的穩(wěn)定性。

        貨架期推算
        同時利用其相界面追蹤的分析模式，也可以將機器的加速老化時間換算成對應的實際存放時間，從而得出銀漿樣品在常規(guī)存放下可以保持多久不會變質，也就是對貨架周期的推算。也即通過不同轉速條件下得出的相界面追蹤數(shù)據(jù)，估算其界面遷移速度，從而在較短的時間內估算出產(chǎn)品的貨架周期。整個實驗進行下來僅僅需要幾天的時間，效率和準確度都十分高。

附實驗結束前后樣品照片：

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